Study of Alumina-Containing Systems Using X-Ray Diffraction Methods Conference Abstracts
Conference |
The Conference and School for Young Scientists High-temperature X-ray Diffraction and X-ray Diffraction of Nanomaterials 19-21 Oct 2020 , Санкт-Петербург |
||||
---|---|---|---|---|---|
Source | Конференция и школа для молодых ученых Терморентгенография и Рентгенография Наноматериалов (ТРРН-4) (Сборник тезисов) Compilation, Санкт-Петербург.2020. 126 c. ISBN 9785965105595. РИНЦ |
||||
Output data | Year: 2020, Pages: 78 Pages count : 1 | ||||
Authors |
|
||||
Affiliations |
|
Cite:
Shefer K.I.
Study of Alumina-Containing Systems Using X-Ray Diffraction Methods
In compilation Конференция и школа для молодых ученых Терморентгенография и Рентгенография Наноматериалов (ТРРН-4) (Сборник тезисов). 2020. – C.78. – ISBN 9785965105595. РИНЦ
Study of Alumina-Containing Systems Using X-Ray Diffraction Methods
In compilation Конференция и школа для молодых ученых Терморентгенография и Рентгенография Наноматериалов (ТРРН-4) (Сборник тезисов). 2020. – C.78. – ISBN 9785965105595. РИНЦ
Identifiers:
Elibrary: | 44088500 |
Citing:
Пока нет цитирований