Анализ структуры и магнитных свойств интерфейса в многослойных наноструктурах (Fe/Si)N с применением поверхностно-чувствительного метода XMCD Full article
Journal |
Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики
ISSN: 0370-274X |
||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Output data | Year: 2014, Volume: 99, Number: 12, Pages: 817–823 Pages count : DOI: 10.7868/S0370274X14120078 | ||||||||
Authors |
|
||||||||
Affiliations |
|
Cite:
Платунов М.С.
, Варнаков С.Н.
, Жарков С.М.
, Бондаренко Г.В.
, Вешке О.
, Шиерле Э.
, Овчинников С.Г.
Анализ структуры и магнитных свойств интерфейса в многослойных наноструктурах (Fe/Si)N с применением поверхностно-чувствительного метода XMCD
Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики. 2014. Т.99. №12. С.817–823. DOI: 10.7868/S0370274X14120078
Анализ структуры и магнитных свойств интерфейса в многослойных наноструктурах (Fe/Si)N с применением поверхностно-чувствительного метода XMCD
Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики. 2014. Т.99. №12. С.817–823. DOI: 10.7868/S0370274X14120078
Translated:
Platunov M.S.
, Varnakov S.N.
, Zharkov S.M.
, Bondarenko G.V.
, Weschke E.
, Schierle E.
, Ovchinnikov S.G.
Analysis of the structure and magnetic properties of an interface in multilayered (Fe/Si) N nanostructures with the surface-sensitive XMCD method
Journal of Experimental and Theoretical Physics Letters (JETP Letters). 2014. V.99. N12. P.706-711. DOI: 10.1134/s002136401412011x WOS OpenAlex
Analysis of the structure and magnetic properties of an interface in multilayered (Fe/Si) N nanostructures with the surface-sensitive XMCD method
Journal of Experimental and Theoretical Physics Letters (JETP Letters). 2014. V.99. N12. P.706-711. DOI: 10.1134/s002136401412011x WOS OpenAlex
Dates:
Submitted: | May 19, 2014 |
Identifiers:
No identifiers
Citing:
Пока нет цитирований