Анализ структуры и магнитных свойств интерфейса в многослойных наноструктурах (Fe/Si)N с применением поверхностно-чувствительного метода XMCD Научная публикация
Журнал |
Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики
ISSN: 0370-274X |
||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Вых. Данные | Год: 2014, Том: 99, Номер: 12, Страницы: 817–823 Страниц : DOI: 10.7868/S0370274X14120078 | ||||||||
Авторы |
|
||||||||
Организации |
|
Библиографическая ссылка:
Платунов М.С.
, Варнаков С.Н.
, Жарков С.М.
, Бондаренко Г.В.
, Вешке О.
, Шиерле Э.
, Овчинников С.Г.
Анализ структуры и магнитных свойств интерфейса в многослойных наноструктурах (Fe/Si)N с применением поверхностно-чувствительного метода XMCD
Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики. 2014. Т.99. №12. С.817–823. DOI: 10.7868/S0370274X14120078
Анализ структуры и магнитных свойств интерфейса в многослойных наноструктурах (Fe/Si)N с применением поверхностно-чувствительного метода XMCD
Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики. 2014. Т.99. №12. С.817–823. DOI: 10.7868/S0370274X14120078
Переводная:
Platunov M.S.
, Varnakov S.N.
, Zharkov S.M.
, Bondarenko G.V.
, Weschke E.
, Schierle E.
, Ovchinnikov S.G.
Analysis of the structure and magnetic properties of an interface in multilayered (Fe/Si) N nanostructures with the surface-sensitive XMCD method
Journal of Experimental and Theoretical Physics Letters (JETP Letters). 2014. V.99. N12. P.706-711. DOI: 10.1134/s002136401412011x WOS OpenAlex
Analysis of the structure and magnetic properties of an interface in multilayered (Fe/Si) N nanostructures with the surface-sensitive XMCD method
Journal of Experimental and Theoretical Physics Letters (JETP Letters). 2014. V.99. N12. P.706-711. DOI: 10.1134/s002136401412011x WOS OpenAlex
Даты:
Поступила в редакцию: | 19 мая 2014 г. |
Идентификаторы БД:
Нет идентификаторов
Цитирование в БД:
Пока нет цитирований